forked from Elron_dev/elbear_arduino_bsp
dev_beta_adcTest (#2)
- добавлена функция изменения разрешения ацп и соответствующие изменения в функции analogRead() - при измерении ацп накапливает некоторое кол-во измерений и усредняет их
This commit is contained in:
1 parent
8f0a5b0a94
commit
63e718e83f
3 files changed
+47
-4
No files matched your search
@@ -71,6 +71,7 @@ volatile uint32_t* portInputRegister(GPIO_TypeDef* GPIO_x);
|
||||
#define SERIAL_PORT_QTY 2
|
||||
|
||||
// ADC
|
||||
#define MCU_ADC_RESOLUTION 12 // bits
|
||||
// determines the ADC channel number by the board pin number
|
||||
uint32_t analogInputToChannelNumber(uint32_t PinNumber);
|
||||
|
||||
|
||||
Reference in new issue
Block a user